因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見(jiàn)諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

內(nèi)孔光學(xué)鏡頭的核心檢測(cè)項(xiàng)目包含四大維度：

幾何參數(shù)檢測(cè)：孔徑公差（±0.5μm級(jí)精度）、圓度誤差（≤1.5μm）、錐度偏差（≤0.02°）、軸向直線度（≤2μm/100mm）

表面質(zhì)量評(píng)估：粗糙度Ra值（0.01-0.8μm區(qū)間分級(jí)）、劃痕/麻點(diǎn)缺陷（MIL-PRF-13830B標(biāo)準(zhǔn)）、鍍膜厚度均勻性（±3%容差）

光學(xué)性能測(cè)試：透射波前畸變（λ/10@632.8nm）、有效通光孔徑比（≥標(biāo)稱值95%）、雜散光抑制率（＜0.5%）

環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證：溫度循環(huán)（-40℃~+85℃）后的尺寸穩(wěn)定性、濕熱試驗(yàn)（85%RH）后的膜層附著力

檢測(cè)范圍

本檢測(cè)體系覆蓋以下典型應(yīng)用場(chǎng)景：

尺寸規(guī)格：孔徑Φ1mm~Φ150mm內(nèi)孔鏡頭，長(zhǎng)徑比1:1至10:1的深孔結(jié)構(gòu)

材料類型：熔融石英、BK7光學(xué)玻璃、紅外晶體（ZnSe/Ge）、工程塑料（PC/PMMA）

鍍膜類型：增透膜（AR）、分光膜、金屬反射膜、硬質(zhì)碳化硅保護(hù)膜

應(yīng)用領(lǐng)域：內(nèi)窺鏡成像系統(tǒng)、激光諧振腔組件、光纖耦合器件、微型光譜儀核心模組

檢測(cè)方法

采用多模態(tài)復(fù)合檢測(cè)技術(shù)實(shí)現(xiàn)全面評(píng)估：

非接觸式測(cè)量：激光共聚焦顯微術(shù)（120nm縱向分辨率）用于三維形貌重建；白光干涉法實(shí)現(xiàn)亞納米級(jí)粗糙度分析；數(shù)字全息技術(shù)捕捉動(dòng)態(tài)裝配應(yīng)力分布

接觸式測(cè)量：納米壓痕儀（0.1mN載荷精度）測(cè)試鍍膜硬度；氣浮式測(cè)頭系統(tǒng)完成微米級(jí)孔徑在線測(cè)量

光學(xué)特性分析：雙通道斐索干涉儀構(gòu)建透射波前數(shù)據(jù)庫(kù)；積分球系統(tǒng)量化散射光分布特性；偏振敏感CCD檢測(cè)膜層殘余應(yīng)力雙折射效應(yīng)

環(huán)境模擬測(cè)試：三軸振動(dòng)臺(tái)模擬運(yùn)輸工況；真空熱沉裝置復(fù)現(xiàn)空間光學(xué)環(huán)境；鹽霧試驗(yàn)箱評(píng)估沿海工況耐受性

檢測(cè)儀器

關(guān)鍵設(shè)備配置需滿足ISO10110光學(xué)元件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

幾何量計(jì)量系統(tǒng)：泰勒霍普森輪廓儀（0.8nm RMS重復(fù)精度）、蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（0.6+L/400μm空間精度）

表面分析設(shè)備：布魯克白光干涉儀（1?垂直分辨率）、奧林巴斯激光共聚焦顯微鏡（405nm波長(zhǎng)光源）

光學(xué)測(cè)試平臺(tái)：ZYGO干涉儀（4D動(dòng)態(tài)波前分析）、海洋光學(xué)高分辨率光譜儀（0.05nm波長(zhǎng)精度）

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備：ESPEC溫濕度交變箱（±0.5℃控溫精度）、IMV六自由度振動(dòng)系統(tǒng)（5-2000Hz掃頻范圍）

輔助裝置組：超凈恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室（20±0.1℃，45±3%RH）、主動(dòng)隔振光學(xué)平臺(tái)（10Hz@-40dB隔振效率）

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無(wú)誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件