因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項(xiàng)目

導(dǎo)電膏異物檢測主要包含以下核心項(xiàng)目：

金屬顆粒物分析：重點(diǎn)檢測鐵、銅、鋁等異種金屬夾雜物含量及粒徑分布

非金屬無機(jī)物鑒別：包括硅酸鹽、氧化物等無機(jī)雜質(zhì)的定性與定量分析

有機(jī)污染物篩查：針對加工過程中可能引入的油脂、殘留溶劑等有機(jī)物進(jìn)行鑒定

纖維類雜質(zhì)識(shí)別：檢測生產(chǎn)環(huán)境帶入的織物纖維或紙屑等纖維素類污染物

粒徑異常組分監(jiān)測：對超出標(biāo)稱粒徑范圍的導(dǎo)電填料顆粒進(jìn)行統(tǒng)計(jì)表征

檢測范圍

本檢測方案適用于以下應(yīng)用場景：

電子元件封裝材料：包括芯片粘接膏、電磁屏蔽涂層等導(dǎo)電介質(zhì)

光伏組件制造：晶體硅太陽能電池銀漿及薄膜電池導(dǎo)電漿料

柔性電路材料：涵蓋可彎曲顯示器件用納米銀漿及石墨烯導(dǎo)電油墨

動(dòng)力電池組件：鋰離子電池極耳導(dǎo)電膠及集流體涂層材料

軍工電子材料：高可靠性軍用電子模塊封裝用特種導(dǎo)電膠

檢測方法

掃描電鏡-能譜聯(lián)用(SEM-EDS)：實(shí)現(xiàn)微米級(jí)異物的形貌觀測與元素組成分析

工作模式：二次電子成像與背散射電子成像結(jié)合

元素分析范圍：B-U（5kV加速電壓下）

傅里葉變換紅外光譜(FTIR)：有機(jī)污染物的官能團(tuán)結(jié)構(gòu)解析

測試模式：ATR全反射與透射法互補(bǔ)應(yīng)用

波數(shù)范圍：4000-400cm^-1

X射線衍射(XRD)：晶體結(jié)構(gòu)異物的物相鑒定

掃描角度：5°-90°(2θ)

步長精度：0.02°

激光粒度分析(LPSA)：異常粒徑組分的分布統(tǒng)計(jì)

測量范圍：0.1-1000μm

分散介質(zhì)選擇：無水乙醇或?qū)Ｓ梅稚?/p>

熱重-差示掃描量熱聯(lián)用(TG-DSC)：揮發(fā)性有機(jī)物及熱分解產(chǎn)物分析

升溫速率：10℃/min（氮?dú)夥諊?/p>

溫度范圍：室溫-800℃

檢測儀器

場發(fā)射掃描電子顯微鏡

型號(hào)示例：JEOL JSM-7900F

分辨率：1.0nm@15kV

顯微紅外光譜系統(tǒng)

型號(hào)示例：Thermo Scientific Nicolet iN10 MX

空間分辨率：5μm×5μm

多晶X射線衍射儀

型號(hào)示例：Bruker D8 ADVANCE

測角儀精度：±0.0001°

動(dòng)態(tài)圖像粒度分析儀

型號(hào)示例：Microtrac MRB CAMSIZER X2

測量頻率：250幀/秒

同步熱分析儀

型號(hào)示例：NETZSCH STA 449 F5 Jupiter?

稱重精度：0.1μg

電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)

型號(hào)示例：Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS

檢出限：ppt級(jí)金屬元素分析能力

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件